Артикул:
103738
Под заказ
Наши менеджеры обязательно свяжутся с вами и уточнят условия заказа
Хочу в подарок
Описание
Измеритель RLC АМ-3128 (Актаком)
Подробности
Характеристики
Гарантийный срок
—
14 месяцев
Производитель
—
АКТАКОМ
Интерфейсы
—
mini-USB
Размеры (ШхВхД)
—
190х90х41 мм
Цена действительна только для интернет-магазина и может отличаться от цен в розничных магазинах
Описание
Области применения
- выборочный контроль качества на производственной линии
- входной контроль при приёмке партии
- тестирование компонентов в ремонтных мастерских и сервисных службах
- сортировка и отбор компонентов по параметрам
- лабораторные исследования параметров при разработке и тестировании
Основные преимущества
- Измеряемые параметры:
Первичные: R – активное электрическое сопротивление; C – электрическая емкость; L – индуктивность; Z – модуль полного сопротивления.
Вторичные: D – тангенс угла диэлектрических потерь; Q – добротность; Θ – угол фазового сдвига. - Напряжение испытательного сигнала 0,3 Вскз и 0,6 Вскз
- Тестовые частоты: 100 Гц, 120 Гц, 1 кГц, 10 кГц, 40 кГц, 100 кГц
- Эквивалентная схема: последовательная, параллельная
- Время измерения: 1 раз/сек (SLOW), 2 раза/сек (MEDIUM), 4 раза/сек (FAST)
- Схема измерения: 2-проводная, 4-проводная
- Способ калибровки: открытая, короткозамкнутая
- Настраиваемый компаратор
- Режим относительных измерений
- Фиксация текущего, минимального, максимального и среднего значения
Технические характеристики
Измерение емкости С и тангенса угла диэлектрических потерь D
Частота испытательного сигнала | Поддиапазон измерений | Отображаемый диапазон | Пределы абсолютной погрешности измерений | Эквивалентная схема измерений | |
---|---|---|---|---|---|
C | De* | ||||
100, 120 Гц | 20 мФ | 4,000 мФ...20,000 мФ | ±(0,08Cx + 5 е.м.р) | ±0,0800 | последовательная |
4 мФ | 400,0 мкФ...3,9999 мФ | ±(0,02Cx + 3 е.м.р) | ±0,0200 | последовательная | |
400 мкФ | 40,00 мкФ...399,99 мкФ | ±(0,006Cx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | последовательная | |
40 мкФ | 4,000 мкФ...39,999 мФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная | |
4 мкФ | 400,0 нФ...3,9999 мкФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная или параллельная | |
400 нФ | 40,00 нФ...399,99 нФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | параллельная | |
40 нФ | 4,000 нФ...39,999 нФ | ±(0,005Cx + 3 е.м.р) | ±0,0050 | параллельная | |
4 нФ | 0 пФ...3,999 нФ | ±(0,015Cx + 5 е.м.р) | - | параллельная | |
1 кГц | 1000 мкФ | 400,0 мкФ...999,9 мкФ | ±(0,03Cx + 5 е.м.р) | ±0,0300 | последовательная |
400 мкФ | 40,00 мкФ...399,99 мкФ | ±(0,015Cx + 3 е.м.р) | ±0,0150 | последовательная | |
40 мкФ | 4,000 мкФ...39,999 мкФ | ±(0,006Cx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | последовательная | |
4 мкФ | 400,0 нФ...3,9999 мкФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная или параллельная | |
400 нФ | 40,00 нФ...399,99 нФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | параллельная | |
40 нФ | 4,000 нФ...39,999 нФ | ±(0,006Cx + 3 е.м.р) | ±0,0060 | параллельная | |
4 нФ | 400,0 пФ...3,9999 нФ | ±(0,006Cx + 3 е.м.р) | ±0,0060 | параллельная | |
400 пФ | 0,0 пФ...399,9 пФ | ±(0,03Cx + 5 е.м.р) | - | параллельная | |
10 кГц | 100 мкФ | 40,00 мкФ...100,00 мкФ | ±(0,04Cx + 5 е.м.р) | ±0,0400 | последовательная |
40 мкФ | 4,000 мкФ...39,999 мкФ | ±(0,02Cx + 3 е.м.р) | ±0,0200 | последовательная | |
4 мкФ | 400,0 нФ...3,9999 мкФ | ±(0,006Cx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | последовательная | |
400 нФ | 40,00 нФ...399,99 нФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная | |
40 нФ | 4,000 нФ...39,999 нФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная или параллельная | |
4 нФ | 400,0 пФ...3,9999 нФ | ±(0,004Cx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | параллельная | |
400 пФ | 40,00 пФ...399,99 пФ | ±(0,006Cx + 3 е.м.р) | ±0,0060 | параллельная | |
40 пФ | 0,00 пФ...39,99 пФ | ±(0,025Cx + 5 е.м.р) | - | параллельная | |
40 кГц | 100 мкФ | 40,00 мкФ...100,00 мкФ | ±(0,06Cx + 5 е.м.р) | ±0,0600 | последовательная |
40 мкФ | 4,000 мкФ...39,999 мкФ | ±(0,04Cx + 3 е.м.р) | ±0,0400 | последовательная | |
4 мкФ | 400,0 нФ...3,9999 мкФ | ±(0,01Cx + 2 е.м.р) | ±0,0100 | последовательная | |
400 нФ | 40,00 нФ...399,99 нФ | ±(0,006Cx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | последовательная | |
40 нФ | 4,000 нФ...39,999 нФ | ±(0,006Cx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | последовательная или параллельная | |
4 нФ | 400,0 пФ...3,9999 нФ | ±(0,006Cx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | параллельная | |
400 пФ | 40,00 пФ...399,99 пФ | ±(0,01Cx + 3 е.м.р) | ±0,0100 | параллельная | |
40 пФ | 0,000 пФ...39,999 пФ | ±(0,03Cx + 5 е.м.р) | - | параллельная | |
100 кГц | 10 мкФ | 4,000 мкФ...10,000 мкФ | ±(0,08Cx + 20 е.м.р) | ±0,0800 | последовательная |
4 мкФ | 400,0 нФ...3,9999 мкФ | ±(0,05Cx + 10 е.м.р) | ±0,050 | последовательная | |
400 нФ | 40,00 нФ...399,99 нФ | ±(0,015Cx + 5 е.м.р) | ±0,0150 | последовательная | |
40 нФ | 4,000 нФ...39,999 нФ | ±(0,01Cx + 2 е.м.р) | ±0,0100 | последовательная | |
4 нФ | 400,0 пФ...3,999 нФ | ±(0,01Cx + 2 е.м.р) | ±0,0100 | последовательная или параллельная | |
400 пФ | 40,00 пФ...399,99 пФ | ±(0,015Cx + 2 е.м.р) | ±0,0150 | параллельная | |
40 пФ | 4,000 пФ...39,999 пФ | ±(0,02Cx + 5 е.м.р) | ±0,0200 | параллельная | |
4 пФ | 0,000 пФ...3,999 пФ | ±(0,05Cx + 10 е.м.р) | - | параллельная |
* – погрешность измерений тангенса угла диэлектрических потерь (De) нормируется для D < 0,5. Сх – измеренное значение емкости.
Измерение индуктивности L и добротности Q
Частота испытательного сигнала | Поддиапазон измерений | Отображаемый диапазон | Пределы абсолютной погрешности измерений | Эквивалентная схема измерений | |
---|---|---|---|---|---|
L | De* | ||||
100 Гц, 120 Гц | 1000 Гн | 400,0 Гн...999,9 Гн | ±(0,02Lx + 3 е.м.р) | ±0,0200 | параллельная |
400 Гн | 40,000 Гн...399,99 Гн | ±(0,006Lx + 2 е.м.р) | ±0,0060 | параллельная | |
40 Гн | 4,000 Гн...39,999 Гн | ±(0,004L + 2 е.м.р) | ±0,0040 | параллельная | |
4 Гн | 400,0 мГн...3,9999 Гн | ±(0,004Lx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная или параллельная | |
400 мГн | 40,00 мГн...399,99 мГн | ±(0,004Lx + 2 е.м.р) | ±0,0040 | последовательная | |
40 мГн |